数字式测长仪

产品详情

基座选用铸铁，经长期自然时效处理，稳定性好。
测量主轴采用优化方形设计，确保测量时运动性能的稳定性。
配置多种可选附件，能满足不同测量要求。
仪器采用了高精密测量系统，符合阿贝原理，测量精度高。
软件功能强大，不仅能对示值误差进行修正，同时还能自动修正由温度造成的测量误差,且软件带有自动判别拐点功能。

产品介绍

工作台：
安装面积（mm ）：160×160
高度调节范围（mm）：0~100
横向行程：25mm
绕Y轴倾斜：±3°
工作台转动：±4°
工作台承重：10kg
测帽内径配合尺寸：φ6H7
测帽杆与测帽内径配合
的外径尺寸：φ6g6
测量范围
外尺寸（mm）：测量0—100，相对测量0—670
内尺寸（mm）：使用小测钩（伸入深度12，臂厚50）时，10~400
使用大测钩（伸入深度50，臂厚85）时，30~370
用电测测钩（mm）：1~60
用测钩（mm）：14~112
内螺纹中径测量（mm）：
使用小测钩时（螺纹小径13~30）
使用大测钩时〔螺纹小径31-（70-臂厚）×2〕
螺距：0.5~6
外螺纹中径测量（mm）：
200，螺距：1~6
测量力(N)：0、1.5、2.5
数字显示当量：0.0001mm
仪器示值变动性：外尺寸测量时，2σ≤0.3μm
内尺寸测量时，2σ≤0.5μm
仪器准确度（20℃±0.2℃时）

仪器使用环境：室温20℃±0.5℃，相对湿度≤60%RH
仪器质重：150kg
仪器外形尺寸（mm）：长960X宽390X高450

SJ5120-100 Smart高精度光栅测长仪

产品详情

· 产品型号：SJ5120-100

· 产品名称：高精度光栅测长仪

· 外尺寸示值误差：±（0.3+L/500）μm，其中：L为被测长度，单位：mm

· 外尺寸重复性(2S)：≤0.15μm

· 内尺寸重复性(2S)：≤0.2μm

· 分辨力：0.01μm

· 测力：0-4N手动连续可调

· 外径测量范围：Φ0.1-Φ100mm（针规、塞规）

· 内径测量范围：Φ6～Φ20 mm（小测钩）、Φ18～Φ100mm（大测钩）

· 主要特点：符合阿贝原理,恒测力,高精度、高稳定性

详细信息

一、产品描述

SJ5120 Smart高精度光栅测长仪采用进口高精度光栅测量系统、进口**高精密研磨导轨、双向切换恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现各种长度参数的高精度测量。通过**精密研磨导轨保证测量行走的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统记录接触测量中长度方向坐标，由计算机将数据测力装置、温度传感器的反馈数据进行合成，按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。

操作者装好被测件，在检测软件上选择被测件的标准和输入被测件的规格等参数后，移动头座接触被测件，调整工作平台及头尾座找到拐点，采样完成得到当前测量数据，控制盒可以实时显示测量结果，如检测螺纹塞规，则可通过简单换算出螺纹中径，整个测量过程不**过2分钟。

控制盒操作界面软件为简体中文操作系统，操作方便。

二、产品功能

1.仪器可用于检测/校准块规、光滑环塞规、螺纹塞规、卡规、校准杆、花键规/花键跨棒距、标准齿轮跨棒距、非标量规、精密工件内外径等；

2.检测各种类国标（GB）、ISO（国际）、BS（英制）、ANSI（美标）、DIN（德标）、JIS（日标）量规，满足国内客户需求；

3.控制系统操作界面友好，符合用户操作习惯；

三、性能特点

1.符合阿贝原理高精度测量：

SJ5120 Smart采用高精度进口长玻璃光栅尺作为长度方向定位，仪器完全符合阿贝原理。

2.高精度、高稳定性：

1）国际的高精度光栅测量系统，分辨力达到0.01μm，测量精度高；

2）国际的**高精密研磨导轨系统，导轨直线度高，导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作；

3）进口特殊材料制作的高刚性、无变形小测杆，保证测试数据的真实采集；

3.恒测力：

1) 恒测力系统，减小了测力对测量结果的影响，保证了较高的系统测量精度；

2) 测力从正到负双方向手动连续可调；

3) 测力非砝码方式调节原理避免了仪器台面不水平及环境振动带来的测力误差。

4.智能检测触摸屏软件系统：

1）操作界面友好，操作者很容易即刻基本掌握仪器操作，使用十分简便；

2）简洁、实用、快速的触摸系统客户操作体验；

3）各国语言软件操作界面，可自由切换，方便用户使用；

4）提供开放式仪器校准操作，方便客户定期对仪器进行校准；

5.智能：

1）智能的环规检测工作平台，采用方便快捷的水平放置方式、夹紧方式以及Y轴及倾斜找拐点；

2）智能的塞规检测夹具，检测时自动找到螺纹中径拐点及塞规直径拐点；

3）智能方便的测力及移动锁紧，操作检测非常简洁；